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Spurenanalytik
Reinmetalle, Halbmetalle
Es wird meist alles an Verunreinigungen bestimmt, was technisch erforderlich und sinnvoll ist, um die geforderte Werkstoffqualität zu garantieren (ca. 10 bis 70 Elemente).
Weitere Hochtechnologie-Elemente wie Indium, Gallium, Germanium, Silicium, Scandium, Antimon, Arsen, Tellur und Seltene Erden sind typische Materialien für die GDMS-Analytik.
Außer diesen Beispielen können bis auf wenige Ausnahmen an fast allen Metallen und Halbmetallen entsprechende Vollanalysen durchgeführt werden.
| Element | Reinheit | Summe aller Verunreinigungen |
| Kupfer (Cu) | 99,99% (4N) | <100 ppm |
| 99,999% (5N) | <10 ppm | |
| 99,9999% (6N) | <1 ppm | |
| Silber (Ag) | 99,99% (4N) | <100 ppm |
| 99,999% (5N) | <10 ppm | |
| Aluminium (Al) | 99,99% (4N) | <100 ppm |
| 99,999% (5N) | <10 ppm |
Bei vielen Speziallegierungen beeinflussen neben den Haupt-Legierungsbestandteilen oft Spuren von schädlichen Elementen die technischen Eigenschaften.
Beispiel: hoch warmfeste Nickellegierungen
Ebenso können durch Dotierung mit Spuren bestimmter Elemente Eigenschaften gezielt beeinflusst werden.
Beispiel:
Durch spezielle Meßtechniken können auch Oxide (z.B. Al2O3) und andere keramische Werkstoffe und Verbindungen auf Reinheit analysiert werden, z.B. Siliziumcarbid (SiC), Siliziumnitrid (SiN) usw. ……
Die meisten leitfähigen Beschichtungen können bis herab zu einer Schichtdicke von wenigen Mikrometer (μm) auf Spuren analysiert werden.
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